Equipex PLANEX Orléans

Experimental Planet: In-situ analyses and simulations under extreme conditions
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Rayons X à HT-HP

Responsable Scientifique :
Bruno SCAILLET
Coordinateur Technique :
Rémi CHAMPALLIER
Contact Manipe :
Ibrahim CHIBOUB
Rémi CHAMPALLIER
Pierre-Alexandre BERTRAND

Objectifs:

Cette installation est conçue pour permettre des analyses RX in situ à haute température et haute pression. Elle permettra de remplir pour partie les objectifs 3 et 6 du projet PLANEX.

Les cibles principales sont l’étude:

  • de la nucléation et et la cristallisation des cristaux dans des liquides alumino-silicatés à HT-HP
  • de la nucléation et et la cristallisation des bulles dans des liquides alumino-silicatés à HT-HP
  • de la nucléation et de la cristallisation des sels fondus

Principe :

L’échantillon est placé dans un autoclave à chauffage interne à fenêtres dites « transparantes ». L’échantillon est soumis à un faisceau de rayons X à travers une première fenêtre. Le signal transmis à travers l’échantillon est collecté par un détecteur au travers d’une seconde fenêtre diamètralement opposée pour la radiographie ou à 90° pour la fluorescence X.

Un autoclave à 4 fenêtres est à l’étude pour l’étude de la diffraction des rayons X.

Etat d’avancement :

L’Institut Néel a déjà conçu de tels autoclaves à fenêtres pour la spectromètrie à rayons X (Testemale et al, 2005 [1]). L’objectif est d’améliorer les performances de ces autoclaves en terme de pression, de température et d’ouverture angulaire des fenêtres. Par ailleurs un autoclave à 4 fenêtres est à l’étude pour la diffraction des rayons X.

L’Institut Néel avec l’appui du SERAS étudie les modifications à apporter aux autoclaves. Des modifications des fours existants, validées par des tests, ont été opérées.

La livraison des nouveaux autoclaves est prévue fin 2015. L’écriture du cahier des charges pour l’achat des sources et détecteurs RX est en cours.

[1]: D. Testemale,R. Argoud,O. Geaymond and J.-L. Hazemann, High pressure/high temperature cell for x-ray absorption and scattering techniques, Review of Scientific Instruments, 2005, 76, DOI:10.1063/1.1884188

Partenaires impliqués dans le développement de l’instrument:


GREMI


NEEL


ISTO